平面干涉仪 光学

QY-P-150M型平面干涉仪:专为计量级测试的需求设计，适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、**命氦氖激光器，1-6.7倍图像放大功能，高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，实现高精密平面光学元件的测量。选配静态干涉条纹分析软件，实现数字化测量。 
QY-P-150S为QY-P-150M:的简化版本，适合光学车间的现场检验。 
主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试；准直系统波前质量的测试。  
仪器规格参数表
产品型号
 QY-P-150M
 QY-P-150S
 
有效通光口径
 152.4mm（6英寸）
 
测量方式
 菲索干涉原理
 
光源
 氦氖激光（632.8nm）
 半导体激光器（635nm）
 
连续变焦倍数
 1-6.7倍
 固定倍率
 
光路切换
 对准（十字叉丝）与测试（干涉场）模式电控切换
 
显示方式
 计算机或独立监视器实时显示
 监视器实时显示
 
平面透过标准镜
 PV：优于λ/20，可定制更高精度标准镜
 
平面反射标准镜
 标配
 选配
 
衰减过滤片
 标配
 选配
 
仪器尺寸(长X宽X高)
 500X500X1070mm
 
仪器重量
 80KG
 
电源
 AC100-240V 50/60Hz
 
（附注：更大口径平面干涉仪可依据客户需求定制）
 

仪器特点 
   ◇ 精度高：标准镜精度高，且材料经过精密退火处理，稳定可靠； 


◇ 调整方便：可通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式，方便调整； 


◇ 条纹真实：优良的光学设计，精密的系统装保证得到清晰、准确、真实的干涉条纹； 


◇ 性能优良：仪器具备良好的隔振性能，适合光学加工现场使用； 


◇ 配件丰富：标配密封罩，可将测试腔与外界气流隔离，降低测试过程中气流扰动，提高判断的准确性。配合衰减过滤片，可以测量镀高反膜元件。